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一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法

文献类型:专利

作者涂德钰; 刘明; 商立伟; 王丛舜
发表日期2009-03-18
专利号CN200610012051.1
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明属于微电子学与分子电子学中的微细加工领域,特别是一种 纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法。其步骤如下:1.在 基片表面上淀积绝缘层薄膜;2.在绝缘层薄膜表面上旋涂电子束抗蚀剂, 电子束曝光、显影得到下电极图形;3.蒸发制备下电极金属;4.金属 剥离得到交叉线下电极;5.在下电极上覆盖生长有机分子薄膜;6.在 有机分子薄膜上蒸发制备金属保护层;7.在保护层上面旋涂双层光刻胶, 电子束曝光、显影得到上电极图形;8.斜向蒸发制备上电极金属薄膜; 9.金属剥离得到交叉线上电极;10.干法刻蚀保护层,完成交叉线有机 分子器件的制备。

公开日期2007-12-05
申请日期2006-05-31
语种中文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/8130]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
涂德钰,刘明,商立伟,等. 一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法. CN200610012051.1. 2009-03-18.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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