Effects of Si, Ge and Ar ion-implantation on EL from Au/Si-rich SiO2/p-Si structure
文献类型：外文期刊
| 作者 | Chen, Y; Ran, GZ; Sun, YK; Wang, YB; Fu, JS; Chen, WT; Gong, YY; Wu, DX; Ma, ZC; Zong, WH |
| 发表日期 | 2001 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/8644]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen, Y,Ran, GZ,Sun, YK,et al. Effects of Si, Ge and Ar ion-implantation on EL from Au/Si-rich SiO2/p-Si structure. 2001. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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