Fabrication and charging characteristics of MOS capacitor structure with metal nanocrystals embedded in gate oxide
文献类型：外文期刊
| 作者 | Guan, WH; Long, SB; Liu, M; Li, ZG; Hu, Y; Liu, Q |
| 发表日期 | 2007 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/8656]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Guan, WH,Long, SB,Liu, M,et al. Fabrication and charging characteristics of MOS capacitor structure with metal nanocrystals embedded in gate oxide. 2007. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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