Resistivity measurements of self-assembled epitaxially grown erbium silicide nanowires
文献类型：外文期刊
| 作者 | Li, ZG; Long, SB; Wang, CS; Ming, L; Wu, WG; Hao, YL; Zhao, XW |
| 发表日期 | 2006 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/8736]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, ZG,Long, SB,Wang, CS,et al. Resistivity measurements of self-assembled epitaxially grown erbium silicide nanowires. 2006. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。