用于电子束光刻剥离的去除双层胶的方法
文献类型:专利
| 作者 | 刘新华; 刘明 ; 涂德钰; 商立伟 ; 谢常青
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| 发表日期 | 2011-06-29 |
| 专利号 | CN200710176930.2 |
| 著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种用于电子束光刻剥离的去除双层胶的方法,包括: 清洗基片,烘干;在基片上旋涂LOR型抗蚀剂作为双层胶的底层胶,烘 干;在LOR层上旋涂ZEP520型电子束抗蚀剂作为顶层胶,前烘;电子束 光刻,对顶层胶进行曝光;对曝光后的顶层胶进行显影、定影,吹干,得 到顶层胶光刻图形;利用顶层胶光刻图形做掩蔽,使用LOR腐蚀剂对底 层胶进行腐蚀,得到所需的内切图形;在得到的内切图形上蒸发金属;依 次去除顶层胶与底层胶,完成剥离工艺,得到所需金属图形。利用本发明, 解决了双层胶的内切结构变得模糊不清的问题,具有分辨率高、可靠性高、 重复性好等优点,在纳米电子器件制备中有着广泛的应用前景。 |
| 公开日期 | 2009-05-13 |
| 申请日期 | 2007-11-07 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/7806] ![]() |
| 专题 | 微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室 |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘新华,刘明,涂德钰,等. 用于电子束光刻剥离的去除双层胶的方法. CN200710176930.2. 2011-06-29. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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