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用于电子束光刻剥离的去除双层胶的方法

文献类型:专利

作者刘新华; 刘明; 涂德钰; 商立伟; 谢常青
发表日期2011-06-29
专利号CN200710176930.2
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明公开了一种用于电子束光刻剥离的去除双层胶的方法,包括: 清洗基片,烘干;在基片上旋涂LOR型抗蚀剂作为双层胶的底层胶,烘 干;在LOR层上旋涂ZEP520型电子束抗蚀剂作为顶层胶,前烘;电子束 光刻,对顶层胶进行曝光;对曝光后的顶层胶进行显影、定影,吹干,得 到顶层胶光刻图形;利用顶层胶光刻图形做掩蔽,使用LOR腐蚀剂对底 层胶进行腐蚀,得到所需的内切图形;在得到的内切图形上蒸发金属;依 次去除顶层胶与底层胶,完成剥离工艺,得到所需金属图形。利用本发明, 解决了双层胶的内切结构变得模糊不清的问题,具有分辨率高、可靠性高、 重复性好等优点,在纳米电子器件制备中有着广泛的应用前景。

公开日期2009-05-13
申请日期2007-11-07
语种中文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/7806]  
专题微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
刘新华,刘明,涂德钰,等. 用于电子束光刻剥离的去除双层胶的方法. CN200710176930.2. 2011-06-29.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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