用于气体检测的亚微米尺寸声表面波延迟线的制作方法
文献类型:专利
作者 | 朱效立![]() ![]() ![]() ![]() |
专利号 | CN200910077517.X |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种用于气体检测的亚微米尺寸声表面波延迟线的制作方法,该方法利用电子束直写光刻技术制备出具有亚微米尺寸声表面波延迟线图形作为X射线曝光掩模板,然后在压电基片上采用X射线曝光得到凹立的延迟线图形,通过电子束蒸发、剥离形成亚微米尺寸声表面波延迟线。利用本发明,极大地减小电极材料的背散射效应,避免了无法在不导电的衬底上电子束光刻得到高分辨率图形的问题,从而进一步提高声表面波气体检测器的性能。另外,利用这个母版可以反复多次进行X射线曝光,提高了制作效率,极大减小了制作成本。 |
公开日期 | 2010-07-21 |
申请日期 | 2009-01-21 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/8392] ![]() |
专题 | 微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱效立,李冬梅,贾锐,等. 用于气体检测的亚微米尺寸声表面波延迟线的制作方法. CN200910077517.X. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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