Effects of Shell Strain on Valence Band Structure and Transport Properties of Ge/Si1-xGex Core-Shell Nanowire
文献类型：外文期刊
| 作者 | Zhao, YN; Xu, HH; Du, G; Liu, XY; Fan, C; Han, RQ; Kang, JF; He, YH |
| 发表日期 | 2010 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/8938]  |
| 专题 | 微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhao, YN,Xu, HH,Du, G,et al. Effects of Shell Strain on Valence Band Structure and Transport Properties of Ge/Si1-xGex Core-Shell Nanowire. 2010. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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