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阻变存储单元的编程方法

文献类型:专利

作者吕杭炳; 连文泰; 刘明; 龙世兵; 刘琦; 谢常青
专利号CN201110220576.5
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明公开了一种阻变存储单元的编程方法。该方法包括:施加置位信号于阻变存储单元,在阻变存储单元上电极和下电极之间形成导电细丝,阻变存储单元转变为低阻态;施加复位信号于阻变存储单元,使导电细丝部分溶解,阻变存储单元由低阻态转变为高阻态;再次施加置位信号于阻变存储单元,部分溶解的导电细丝在置位信号的作用下,继续生长,直至重新连接阻变存储单元的上电极和下电极,阻变存储单元由高阻态转变为低阻态。本发明的阻变存储单元的编程方法具有下列有益效果:1、可以提高阻变存储单元电阻转变性能参数均一性;2、可以提高阻变存储单元的编程速度。

公开日期2013-02-06
申请日期2011-08-03
语种中文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/10375]  
专题微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
吕杭炳,连文泰,刘明,等. 阻变存储单元的编程方法. CN201110220576.5.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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