阻变存储单元的编程方法
文献类型:专利
作者 | 吕杭炳![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
专利号 | CN201110220576.5 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种阻变存储单元的编程方法。该方法包括:施加置位信号于阻变存储单元,在阻变存储单元上电极和下电极之间形成导电细丝,阻变存储单元转变为低阻态;施加复位信号于阻变存储单元,使导电细丝部分溶解,阻变存储单元由低阻态转变为高阻态;再次施加置位信号于阻变存储单元,部分溶解的导电细丝在置位信号的作用下,继续生长,直至重新连接阻变存储单元的上电极和下电极,阻变存储单元由高阻态转变为低阻态。本发明的阻变存储单元的编程方法具有下列有益效果:1、可以提高阻变存储单元电阻转变性能参数均一性;2、可以提高阻变存储单元的编程速度。 |
公开日期 | 2013-02-06 |
申请日期 | 2011-08-03 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/10375] ![]() |
专题 | 微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 吕杭炳,连文泰,刘明,等. 阻变存储单元的编程方法. CN201110220576.5. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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