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INVESTIGATION OF THE FORMING PROGRAM FAILTURE IN ITIR STRUCTURE

文献类型:会议论文

作者Liu M(刘明); Long SB(龙世兵); Wang GM(王国明); Zhang MY(张美芸); Liu HT(刘红涛); Lv HB(吕杭炳); Xu XX(许晓欣)
出版日期2015-12-28
语种英语
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/15258]  
专题微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Liu M,Long SB,Wang GM,et al. INVESTIGATION OF THE FORMING PROGRAM FAILTURE IN ITIR STRUCTURE[C]. 见:.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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