Pulsed-Laser Testing for Single Event Effects in a Stand-Alone Resistive Random Access Memory
文献类型：期刊论文
| 作者 | Xi K(习凯) ; Zhang F(张锋); Li J(李金); Ji LL(季兰龙); Liu J(刘璟); Liu M(刘明); Bi JS(毕津顺)
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| 刊名 | IPFA
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| 出版日期 | 2017-07-02 |
| 文献子类 | 期刊论文 |
| 源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/18190]  |
| 专题 | 微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室 |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Xi K,Zhang F,Li J,et al. Pulsed-Laser Testing for Single Event Effects in a Stand-Alone Resistive Random Access Memory[J]. IPFA,2017. |
| APA | Xi K.,Zhang F.,Li J.,Ji LL.,Liu J.,...&Bi JS.(2017).Pulsed-Laser Testing for Single Event Effects in a Stand-Alone Resistive Random Access Memory.IPFA. |
| MLA | Xi K,et al."Pulsed-Laser Testing for Single Event Effects in a Stand-Alone Resistive Random Access Memory".IPFA (2017). |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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