本发明公开了一种对阻变存储器阵列进行测试的系统，包括：探针台，用于承载待测阻变存储器阵列；探针卡，用于实现硬件地址电路与待测阻变存储器阵列的良好连接；硬件地址选择电路，用于完成待测阻变存储器阵列指定端口的地址译码和选通工作；恒压源表，用于向硬件地址选择电路提供直流电压；测量源表，用于提供器件测试所需要的操作电压；控制主机，用于控制整个系统进行不同类型的测试操作，并完成测试结果数据的输出和统计分析。针对具有特殊结构阻变存储器阵列的性能无法评估的问题，本发明利用现有实验设备，不仅低成本地实现了器件性能的测试和评估，而其为后续其它阵列结构器件的测试和检测提供了一种思路和方法。