A Single Event Upset Tolerant Latch Design
文献类型：期刊论文
| 作者 | Haibin Wang; Xixi Dai; Yangsheng Wang; Issam Nofal; Li Cai; Zicai Shen; Wanxiu Sun; Jinshun Bi; Bo Li; Gang Guo |
| 刊名 | Microelectronics Reliability
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| 出版日期 | 2018-09-01 |
| 文献子类 | 期刊论文 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18948]  |
| 专题 | 微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Haibin Wang,Xixi Dai,Yangsheng Wang,et al. A Single Event Upset Tolerant Latch Design[J]. Microelectronics Reliability,2018. |
| APA | Haibin Wang.,Xixi Dai.,Yangsheng Wang.,Issam Nofal.,Li Cai.,...&Li Chen.(2018).A Single Event Upset Tolerant Latch Design.Microelectronics Reliability. |
| MLA | Haibin Wang,et al."A Single Event Upset Tolerant Latch Design".Microelectronics Reliability (2018). |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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