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共基极与共发射极结构的InP DHBT器件功率特性

文献类型:期刊论文

作者王显泰; 金智; 程伟; 申华军; 苏永波
刊名半导体技术
出版日期2009
卷号34期号:8页码:4,759-762
关键词功率放大器磷化铟 双异质结双极型晶体管 负载牵引
ISSN号1003-353X
其他题名Power Performance of Common-Base and Common-Emitter InP DHBTs
英文摘要

制作了发射极面积为1μm×15μm×4指的InP DHBT器件,器件拓扑使用了共基极和共发射极两种结构,通过负载牵引测试系统对器件功率特性进行测试。在功率优化匹配条件下,所测得最大输出功率密度和相应的功率附加效率(PAE)在10GHz下为1.24W/mm和50%,在18GHz下的数据为0.82W/mm和26%。测试同时表明,共发射极结构相对稳定和易于匹配,共基极模式具有更大的输出功率潜力,但需要进一步解决难于匹配、容易振荡和寄生参量影响等问题。在功放电路设计中,可以根据不同需求选择合适的电路拓扑结构。[著者文摘]

语种中文
公开日期2010-06-01
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/2196]  
专题微电子研究所_高频高压器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王显泰,金智,程伟,等. 共基极与共发射极结构的InP DHBT器件功率特性[J]. 半导体技术,2009,34(8):4,759-762.
APA 王显泰,金智,程伟,申华军,&苏永波.(2009).共基极与共发射极结构的InP DHBT器件功率特性.半导体技术,34(8),4,759-762.
MLA 王显泰,et al."共基极与共发射极结构的InP DHBT器件功率特性".半导体技术 34.8(2009):4,759-762.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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