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一种SiC肖特基二极管及其制作方法

文献类型:专利

作者汤益丹; 刘新宇; 许恒宇; 蒋浩杰; 赵玉印; 申华军; 白云; 杨谦
发表日期2016-08-17
专利号CN201310580966.2
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

 本发明公开了一种SiC肖特基二极管及其制作方法,该SiC肖特基二极管包括N++-SiC衬底和N--SiC外延层,N--SiC外延层形成于N++-SiC衬底之上,且N++-SiC衬底背面设有N型欧姆接触电极,N--SiC外延层表面设有肖特基接触电极,肖特基接触电极之下有选择性P+-SiC区域环,P+-SiC区域环之下有与P+-SiC区域环对应的N+-SiC区域环,作为雪崩击穿时的保护环;肖特基接触电极的外围设有多个P+-SiC保护环,作为该二极管器件的终端保护结构;在肖特基接触电极边缘设有SiO2钝化层,在SiO2钝化层上方设有场板。本发明使得SiC肖特基二极管的导通电压与Si肖特基二极管的导通电压相近,不仅与原有采用Si器件的系统匹配良好,而且可应用于Si肖特基器件所不能达到的高压600V-1200V的开关电源和功率因数校正电路中。

公开日期2014-02-12
申请日期2013-11-18
语种中文
源URL[http://159.226.55.106/handle/172511/16424]  
专题微电子研究所_高频高压器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
汤益丹,刘新宇,许恒宇,等. 一种SiC肖特基二极管及其制作方法. CN201310580966.2. 2016-08-17.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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