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一种宽禁带功率器件场板的制造方法

文献类型:专利

作者杨谦; 刘新宇; 许恒宇; 汤益丹; 蒋浩杰; 赵玉印; 申华军; 白云
发表日期2016-03-16
专利号CN201310567092.7
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

 本发明公开了一种宽禁带功率器件场板的制造方法,包括:在功率半导体外延片衬底表面制作介质钝化层;采用光刻技术在该介质钝化层表面形成刻蚀窗口;采用刻蚀或腐蚀技术对该介质钝化层开孔,形成具有特定角度的斜面;在该具有特定角度的斜面上制作场板金属。利用本发明,不需要多步干法刻蚀,采用湿法腐蚀的方法,可以防止干法刻蚀过程中对半导体器件表面造成的损伤,且可以形成满足电场均匀分布要求的具有一定倾斜角度的场板斜面。

公开日期2014-02-26
申请日期2013-11-14
语种中文
源URL[http://159.226.55.106/handle/172511/16425]  
专题微电子研究所_高频高压器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杨谦,刘新宇,许恒宇,等. 一种宽禁带功率器件场板的制造方法. CN201310567092.7. 2016-03-16.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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