碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管
文献类型:专利
作者 | 汤益丹![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2017-06-20 |
专利号 | CN201410643283.1 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管,包括:源极(1)、栅极(2)、栅氧化层(3)、N+源区(4)、P+接触区(5)、P阱(6)、N??外延层(7)、缓冲层(8)、N+衬底(9)、漏极(10)、隔离介质(11)和额外N型注入的JFET子区域(12)。本发明提出的碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管,通过部分额外N型注入器件的JFET区域,降低JFET区域电阻,同时满足沟道不被耗尽,尤其可应用于短沟道碳化硅MOSFET器件中。利用本发明制备的SiC金属氧化物半导体场效应晶体管器件,可用于功率开关电源电路,DC/DC、AC/DC、DC/AC变换器等。 |
公开日期 | 2015-03-11 |
申请日期 | 2014-11-10 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/17705] ![]() |
专题 | 微电子研究所_高频高压器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 汤益丹,白云,申华军,等. 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管. CN201410643283.1. 2017-06-20. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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