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碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管

文献类型:专利

作者汤益丹; 白云; 申华军; 霍瑞彬; 刘新宇
发表日期2017-06-20
专利号CN201410643283.1
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明公开了一种碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管,包括:源极(1)、栅极(2)、栅氧化层(3)、N+源区(4)、P+接触区(5)、P阱(6)、N??外延层(7)、缓冲层(8)、N+衬底(9)、漏极(10)、隔离介质(11)和额外N型注入的JFET子区域(12)。本发明提出的碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管,通过部分额外N型注入器件的JFET区域,降低JFET区域电阻,同时满足沟道不被耗尽,尤其可应用于短沟道碳化硅MOSFET器件中。利用本发明制备的SiC金属氧化物半导体场效应晶体管器件,可用于功率开关电源电路,DC/DC、AC/DC、DC/AC变换器等。

公开日期2015-03-11
申请日期2014-11-10
语种中文
源URL[http://159.226.55.106/handle/172511/17705]  
专题微电子研究所_高频高压器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
汤益丹,白云,申华军,等. 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管. CN201410643283.1. 2017-06-20.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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