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减小顶栅石墨烯场效应晶体管欧姆接触的方法

文献类型:专利

作者史敬元; 彭松昂; 金智; 张大勇
发表日期2018-11-20
专利号CN201610266868.5
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明公开了一种减小顶栅石墨烯场效应晶体管欧姆接触的方法,该方法包括:在半导体衬底上依次形成绝缘层和石墨烯导电层;在所述半导体衬底上旋涂光刻胶,曝光后显影出梳型源漏接触结构,选择性沉积金属后剥离;在石墨烯导电层上沉积栅介质层;对栅介质层和石墨烯进行图形化刻蚀;在梳型源漏接触结构上选择性沉积源漏电极金属;在沟道区栅介质层上沉积栅金属。该制备过程简单并易于与顶栅石墨烯场效应晶体管制备工艺兼容,同时,由于采用了梳型的接触结构,使得电流通过边沿传输的方式由金属注入到石墨烯中,大大提升了电流注入效率,从而减小了器件的接触电阻,有助于提高顶栅石墨烯场效应晶体管的直流和频率特性。

公开日期2016-07-20
申请日期2016-04-26
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18685]  
专题微电子研究所_高频高压器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
史敬元,彭松昂,金智,等. 减小顶栅石墨烯场效应晶体管欧姆接触的方法. CN201610266868.5. 2018-11-20.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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