减小顶栅石墨烯场效应晶体管欧姆接触的方法
文献类型:专利
作者 | 史敬元![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2018-11-20 |
专利号 | CN201610266868.5 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种减小顶栅石墨烯场效应晶体管欧姆接触的方法,该方法包括:在半导体衬底上依次形成绝缘层和石墨烯导电层;在所述半导体衬底上旋涂光刻胶,曝光后显影出梳型源漏接触结构,选择性沉积金属后剥离;在石墨烯导电层上沉积栅介质层;对栅介质层和石墨烯进行图形化刻蚀;在梳型源漏接触结构上选择性沉积源漏电极金属;在沟道区栅介质层上沉积栅金属。该制备过程简单并易于与顶栅石墨烯场效应晶体管制备工艺兼容,同时,由于采用了梳型的接触结构,使得电流通过边沿传输的方式由金属注入到石墨烯中,大大提升了电流注入效率,从而减小了器件的接触电阻,有助于提高顶栅石墨烯场效应晶体管的直流和频率特性。 |
公开日期 | 2016-07-20 |
申请日期 | 2016-04-26 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18685] ![]() |
专题 | 微电子研究所_高频高压器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 史敬元,彭松昂,金智,等. 减小顶栅石墨烯场效应晶体管欧姆接触的方法. CN201610266868.5. 2018-11-20. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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