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适用于64位总线位宽的CRC校验电路及校验方法

文献类型:专利

作者任雪倩; 赵建中; 汪波; 周玉梅
发表日期2018-09-25
专利号CN201510717615.0
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

 一种适用于64位总线位宽的CRC校验电路及校验方法,可以针对16位、32位、48位和64位几种对齐格式的事务包数据,仅通过16位和64位两种并行CRC校验器,加延迟判断和按位取反等效逻辑的结构,来实现消减CRC-16校验器个数的目的。本发明的CRC-16校验电路能够在满足不同包尺寸和不同包格式的事务包校验的同时,在面积、功耗和速度上都有明显的改善。

公开日期2016-03-09
申请日期2015-10-29
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18609]  
专题微电子研究所_智能感知研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
任雪倩,赵建中,汪波,等. 适用于64位总线位宽的CRC校验电路及校验方法. CN201510717615.0. 2018-09-25.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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