适用于64位总线位宽的CRC校验电路及校验方法
文献类型:专利
| 作者 | 任雪倩; 赵建中 ; 汪波; 周玉梅
|
| 发表日期 | 2018-09-25 |
| 专利号 | CN201510717615.0 |
| 著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 一种适用于64位总线位宽的CRC校验电路及校验方法,可以针对16位、32位、48位和64位几种对齐格式的事务包数据,仅通过16位和64位两种并行CRC校验器,加延迟判断和按位取反等效逻辑的结构,来实现消减CRC-16校验器个数的目的。本发明的CRC-16校验电路能够在满足不同包尺寸和不同包格式的事务包校验的同时,在面积、功耗和速度上都有明显的改善。 |
| 公开日期 | 2016-03-09 |
| 申请日期 | 2015-10-29 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18609] ![]() |
| 专题 | 微电子研究所_智能感知研发中心 |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 任雪倩,赵建中,汪波,等. 适用于64位总线位宽的CRC校验电路及校验方法. CN201510717615.0. 2018-09-25. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。

