A practical,low-overdead,one-cycle correction design method for variation-tolerant digital circuits
文献类型：期刊论文
| 作者 | Xie LL(谢琳琳); Hei Y(黑勇); Qiao SS(乔树山); Yu Y(于义); Yuan J(袁甲) |
| 刊名 | IEICE ELEX
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| 出版日期 | 2018-01-25 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/19035]  |
| 专题 | 微电子研究所_智能感知研发中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Xie LL,Hei Y,Qiao SS,et al. A practical,low-overdead,one-cycle correction design method for variation-tolerant digital circuits[J]. IEICE ELEX,2018. |
| APA | 谢琳琳,黑勇,乔树山,于义,&袁甲.(2018).A practical,low-overdead,one-cycle correction design method for variation-tolerant digital circuits.IEICE ELEX. |
| MLA | 谢琳琳,et al."A practical,low-overdead,one-cycle correction design method for variation-tolerant digital circuits".IEICE ELEX (2018). |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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