一种标准单元优化方法及系统
文献类型:专利
作者 | 陈岚![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2018-09-11 |
专利号 | CN201410613739.X |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种标准单元优化方法及系统,该方法包括:获取标准单元的当前电路和与当前电路相对应的当前版图;提取当前版图的寄生参数;在当前电路中增加寄生参数,生成带寄生电路;对带寄生电路进行性能测试,得到带寄生电路的性能测试值;如果性能测试值不满足性能指标的要求,则对带寄生电路的器件参数值进行调整得到已调整电路,直至对已调整电路进行性能测试得到的性能测试值与性能指标间的相对误差在预设误差范围内为止,并将最终得到的已调整电路作为参照电路;根据参照电路,完成当前电路的更新;根据更新后的当前电路,完成当前版图的更新。本发明方法及系统可以有效提高标准单元电路和版图的设计效率。 |
公开日期 | 2016-06-01 |
申请日期 | 2014-11-04 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18651] ![]() |
专题 | 微电子研究所_EDA中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈岚,吴玉平,张学连,等. 一种标准单元优化方法及系统. CN201410613739.X. 2018-09-11. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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