Application of Stochastic Methods in Parasitic Extraction Integrated Circuit with Geometric Process Variations
文献类型：会议论文
| 作者 | Yan S(闫帅); Ren ZX(任卓翔); Lv PF(吕鹏飞) ; Xu XY(徐小宇)
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| 出版日期 | 2018-10-30 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/19144]  |
| 专题 | 微电子研究所_EDA中心 |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Yan S,Ren ZX,Lv PF,et al. Application of Stochastic Methods in Parasitic Extraction Integrated Circuit with Geometric Process Variations[C]. 见:. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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