一种制作晶体管和半导体器件的方法
文献类型:专利
作者 | 尹海洲![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2016-03-02 |
专利号 | CN201110083546.4 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 提供了一种制作晶体管和半导体器件的方法。制作晶体管的方法可以包括:在半导体衬底上确定有源区,在所述有源区上形成栅叠层或伪栅叠层、源漏延伸区、侧墙和源漏区,所述源漏延伸区嵌于所述有源区中且自对准于所述栅叠层或伪栅叠层两侧,所述侧墙环绕所述栅叠层或伪栅叠层,所述源漏区嵌于所述有源区中且自对准于所述侧墙外;至少去除部分所述侧墙,以暴露部分所述有源区;形成层间介质层,所述层间介质层覆盖所述栅叠层或伪栅叠层、所述侧墙和暴露的所述有源区,所述层间介质层材料的介电常数小于被去除的所述侧墙材料的介电常数。利于减小栅极区域和源漏区之间以及栅极区域和接触塞之间的电容。 |
公开日期 | 2012-10-17 |
申请日期 | 2011-04-02 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/14505] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 尹海洲,骆志炯,朱慧珑. 一种制作晶体管和半导体器件的方法. CN201110083546.4. 2016-03-02. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。