半导体器件及其形成方法
文献类型:专利
作者 | 赵超![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2015-03-18 |
专利号 | CN201010512128.8 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 一种半导体器件,包括栅介质层,形成于半导体基底上;栅极,形成于所述栅介质层上;其中所述栅介质层包括含铪稀土氧化物或/和含锆稀土氧化物,且所述栅介质层为立方晶系的单晶,所述栅介质层沿所述半导体基底的晶格方向外延生长。还提供一种半导体器件的形成方法,将半导体基底置于反应腔中;向所述反应腔中通入含铪或/和含锆反应物、以及稀土反应物,以在所述半导体基底上外延形成单晶的栅介质层,且所述栅介质层为立方晶系,其晶格生长方向与所述半导体基底的晶格方向一致;在所述栅介质层上形成栅极。本发明的半导体器件及其形成方法可提高沟道内的载流子迁移率。 |
公开日期 | 2012-05-09 |
申请日期 | 2010-10-13 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/15720] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵超,钟汇才,王文武. 半导体器件及其形成方法. CN201010512128.8. 2015-03-18. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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