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半导体器件及其形成方法

文献类型:专利

作者赵超; 钟汇才; 王文武
发表日期2015-03-18
专利号CN201010512128.8
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

一种半导体器件,包括栅介质层,形成于半导体基底上;栅极,形成于所述栅介质层上;其中所述栅介质层包括含铪稀土氧化物或/和含锆稀土氧化物,且所述栅介质层为立方晶系的单晶,所述栅介质层沿所述半导体基底的晶格方向外延生长。还提供一种半导体器件的形成方法,将半导体基底置于反应腔中;向所述反应腔中通入含铪或/和含锆反应物、以及稀土反应物,以在所述半导体基底上外延形成单晶的栅介质层,且所述栅介质层为立方晶系,其晶格生长方向与所述半导体基底的晶格方向一致;在所述栅介质层上形成栅极。本发明的半导体器件及其形成方法可提高沟道内的载流子迁移率。

公开日期2012-05-09
申请日期2010-10-13
语种中文
源URL[http://159.226.55.106/handle/172511/15720]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
赵超,钟汇才,王文武. 半导体器件及其形成方法. CN201010512128.8. 2015-03-18.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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