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平坦化处理方法

文献类型:专利

作者邓坚; 朱慧珑; 罗军; 李春龙; 赵超
发表日期2017-03-01
专利号CN201210505359.5
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本申请公开了一种平坦化处理方法。一示例方法可以包括:在材料层中对于溅射的负载条件较高的区域中形成沟槽;以及对材料层进行溅射,以使材料层平坦。

公开日期2014-06-11
申请日期2012-11-30
语种中文
源URL[http://159.226.55.106/handle/172511/17806]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
邓坚,朱慧珑,罗军,等. 平坦化处理方法. CN201210505359.5. 2017-03-01.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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