半导体器件及其制造方法
文献类型:专利
作者 | 钟汇才![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2017-06-16 |
专利号 | CN201210333081.8 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本申请公开了一种半导体器件及其制造方法。根据一示例,半导体器件可以包括:半导体层;半导体基体,位于半导体层上,所述半导体基体包括延伸穿过该半导体基体的空腔;源极和漏极,在半导体层上形成,且分别接于半导体基体的相对的第一侧面和第二侧面;栅极,分别接于半导体基体的相对的第三侧面和第四侧面。 |
公开日期 | 2014-03-26 |
申请日期 | 2012-09-10 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/17858] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 钟汇才,朱慧珑,梁擎擎,等. 半导体器件及其制造方法. CN201210333081.8. 2017-06-16. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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