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降低二维晶体材料接触电阻的方法

文献类型:专利

作者贾昆鹏; 粟雅娟; 朱慧珑; 赵超
发表日期2017-12-22
专利号CN201310254601.0
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明提供了一种降低二维晶体材料接触电阻的方法,包括:提供衬底,所述衬底上具有二维晶体材料层;在所述二维晶体材料层上形成图案化的掩膜层;在掩膜层及二维晶体材料层上形成接触材料层;进行离子注入;去除掩膜层及其上的接触材料层;进行热退火工艺。本发明不需要额外增加掩膜版和刻蚀工艺,自对准实现二维晶体材料层接触电阻的调整,有效降低了二维晶体材料与接触材料的接触电阻。

公开日期2014-12-31
申请日期2013-06-25
语种中文
源URL[http://159.226.55.106/handle/172511/17924]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
贾昆鹏,粟雅娟,朱慧珑,等. 降低二维晶体材料接触电阻的方法. CN201310254601.0. 2017-12-22.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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