混合光学和电子束光刻方法
文献类型:专利
作者 | 李春龙![]() ![]() |
发表日期 | 2018-02-09 |
专利号 | CN201210353673.6 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种混合光学和电子束光刻方法,包括:在衬底上形成结构材料层和第一硬掩模层;进行第一光刻/刻蚀,形成第一硬掩模图形;在第一硬掩模图形上形成第二硬掩模层;进行第二光刻/刻蚀,形成第二硬掩模图形;采用各向异性刻蚀技术,刻蚀结构材料层,形成所需要的光学及电子束线条。依照本发明的混合光学和电子束光刻方法,将同一层次图形按线条大小进行分开处理,大的线条采用光学曝光,而精细图形采用电子束曝光,可以大幅缩减曝光时间,提高产能。 |
公开日期 | 2014-03-26 |
申请日期 | 2012-09-20 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18746] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李春龙,孟令款,贺晓彬. 混合光学和电子束光刻方法. CN201210353673.6. 2018-02-09. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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