堆叠纳米线制造方法
文献类型:专利
作者 | 马小龙; 殷华湘![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2018-02-13 |
专利号 | CN201310007089.X |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种堆叠纳米线制造方法,包括:在衬底上形成介质堆叠结构;在介质堆叠结构中刻蚀形成第一沟槽;在介质堆叠结构中、第一沟槽的侧面刻蚀形成第二沟槽;在第一和第二沟槽中外延生长半导体材料;去除介质堆叠结构,留下半导体材料;减薄半导体材料,形成纳米线堆叠。依照本发明的堆叠纳米线制造方法,采用交叠的多层介质材料以利于选择性刻蚀形成纳米线阵列,减少了工艺步骤,降低了成本,提高了器件的可靠性。 |
公开日期 | 2014-07-09 |
申请日期 | 2013-01-09 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18748] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 马小龙,殷华湘,周华杰,等. 堆叠纳米线制造方法. CN201310007089.X. 2018-02-13. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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