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半导体器件制造方法

文献类型:专利

作者毛淑娟; 秦长亮; 殷华湘; 梁擎擎
发表日期2018-02-13
专利号CN201210393040.8
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明提供了一种利用间隙壁技术形成栅极的晶体管的制造方法。在本发明的方法中,在第一材料层的侧面,依次形成第一间隙壁、第二间隙壁、第三间隙壁以及第四间隙壁,通过去除第二间隙壁形成了宽度由第二间隙壁控制的栅极凹槽,继而在栅极凹槽中形成所需要的栅极和栅极绝缘层。本发明中,利用回刻蚀形成间隙壁,不需要采用额外的掩模版,并且,通过控制第二间隙壁的宽度来限定栅极宽度,可以实现亚45nm的栅极线条的形成,并且使工艺具有良好的可控性。

公开日期2014-04-16
申请日期2012-10-16
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18754]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
毛淑娟,秦长亮,殷华湘,等. 半导体器件制造方法. CN201210393040.8. 2018-02-13.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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