半导体器件制造方法
文献类型:专利
| 作者 | 马小龙; 殷华湘 ; 付作振
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| 发表日期 | 2018-02-13 |
| 专利号 | CN201210293349.X |
| 著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种高迁移率材料层制造方法,包括:在衬底中和/或上形成多种前驱物;脉冲激光处理,使得多种前驱物相互反应形成高迁移率材料层。此外还提供了一种半导体器件制造方法,包括:在绝缘衬底上形成缓冲层;采用上述高迁移率材料层制造方法,在缓冲层上形成第一高迁移率材料层;采用上述高迁移率材料层制造方法,在第一高迁移率材料层上形成第二高迁移率材料层;在第一和第二高迁移率材料层中形成沟槽隔离并定义有源区。依照本发明的半导体器件制造方法,通过调整激光处理的脉冲个数和能量密度,在绝缘衬底上分多次形成了多层高迁移率材料以用作器件沟道区,有效提高了器件载流子迁移率并进一步提高了器件驱动能力。 |
| 公开日期 | 2014-02-19 |
| 申请日期 | 2012-08-16 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18759] ![]() |
| 专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马小龙,殷华湘,付作振. 半导体器件制造方法. CN201210293349.X. 2018-02-13. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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