半导体器件
文献类型:专利
作者 | 殷华湘![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2018-02-13 |
专利号 | CN201410812062.2 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明提供了一种半导体X线探测器及其制造方法和操作方法,将低温TFT集成在硅基二极管阵列中,以形成在片的信号处理和放大电路,这样,可以即时地放大由PIN二极管获取的微弱电信号,抑制噪声,提高灵敏度;同时,通过低温TFT在片放大信号,可以降低铟柱封装引线中的寄生电容的影响;另外,低温TFT的工艺对硅基二极管像素单元的探测灵敏度没有影响,也不影响到后续的铟柱倒装焊的封装工艺。 |
公开日期 | 2016-07-20 |
申请日期 | 2014-12-22 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18761] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 殷华湘,贾云丛,袁烽,等. 半导体器件. CN201410812062.2. 2018-02-13. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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