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堆叠纳米线MOS晶体管制作方法

文献类型:专利

作者殷华湘; 秦长亮; 付作振; 马小龙; 陈大鹏
发表日期2018-07-31
专利号CN201210392511.3
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明公开了一种堆叠纳米线MOS晶体管制作方法,包括:在衬底上形成沿第一方向延伸的多个鳍片;在每个鳍片中形成由多个纳米线构成的纳米线堆叠;在纳米线堆叠上形成沿第二方向延伸的栅极堆叠结构,栅极堆叠结构环绕包围纳米线堆叠;在栅极堆叠结构两侧形成源漏区,源漏区之间的纳米线构成沟道区。依照本发明的堆叠纳米线MOS晶体管及其制作方法,通过多次回刻、侧向腐蚀沟槽并填充,形成了质量良好的纳米线堆叠。侧向腐蚀工艺方法包括包含内切横向刻蚀量的各向同性干法刻蚀,或者沿各晶向选择腐蚀的湿法腐蚀方法。本方法以较低的成本充分增大导电沟道有效宽度从而提高驱动电流。

公开日期2014-04-16
申请日期2012-10-16
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18820]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
殷华湘,秦长亮,付作振,等. 堆叠纳米线MOS晶体管制作方法. CN201210392511.3. 2018-07-31.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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