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Analysis of Current Research Status of Plasma Etch Process Model

文献类型:期刊论文

作者Wei YY(韦亚一); Chen R(陈睿); Li XT(李晓婷); Xuanmin Zhu; Jing Zhang; Wang YR(王艳蓉); Shuhua Wei; Yan J(闫江); Qu L(屈磊)
刊名Journal of Microelectronic Manufacturing
出版日期2018-09-30
文献子类期刊论文
语种英语
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/19069]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Wei YY,Chen R,Li XT,et al. Analysis of Current Research Status of Plasma Etch Process Model[J]. Journal of Microelectronic Manufacturing,2018.
APA Wei YY.,Chen R.,Li XT.,Xuanmin Zhu.,Jing Zhang.,...&Qu L.(2018).Analysis of Current Research Status of Plasma Etch Process Model.Journal of Microelectronic Manufacturing.
MLA Wei YY,et al."Analysis of Current Research Status of Plasma Etch Process Model".Journal of Microelectronic Manufacturing (2018).

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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