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锗基pMOSFET迁移率的栅电荷库伦散射研究

文献类型:学位论文

作者周丽星
答辩日期2019-05-19
文献子类博士
授予单位中国科学院大学
导师王文武
学位专业微电子学与固体电子学
源URL[http://ir.ime.ac.cn/handle/172511/19365]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
周丽星. 锗基pMOSFET迁移率的栅电荷库伦散射研究[D]. 中国科学院大学. 2019.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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