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基于倏逝波界面散射的单个纳米颗粒无标记成像

文献类型:期刊论文

作者熊伟; 张朝前; 谌雅琴; 刘虹遥; 孙旭晴; 江丽雯; 路鑫超
刊名光学学报
出版日期2018-06-05
文献子类期刊论文
英文摘要绍了一种利用倏逝波界面散射对单个纳米颗粒进行无标记成像的方法.分别使用全内反射(TIR)倏逝波与表面等离激元(SPPs)两种倏逝波与单个纳米颗粒相互作用,激发纳米颗粒极化并发生散射,所产生的界面散射与入射倏逝波发生干涉,形成了纳米颗粒极化场与抛物线形干涉条纹的特征成像.分别对直径为500,200,100nm的聚苯乙烯颗粒进行了单个纳米颗粒无标记成像.比较了两种倏逝波界面散射对单个纳米颗粒成像结果,发现表面等离激元界面散射成像中的单个纳米颗粒极化强度约是全内反射极化强度的10倍,并且接近于暗场成像.因此,表面等离激元界面散射对单个纳米颗粒无标记成像具有更高灵敏度.所提单个纳米颗粒无标记成像方法可以拓展到病毒检测、生物单分子成像等领域.
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/19222]  
专题微电子研究所_健康电子研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
熊伟,张朝前,谌雅琴,等. 基于倏逝波界面散射的单个纳米颗粒无标记成像[J]. 光学学报,2018.
APA 熊伟.,张朝前.,谌雅琴.,刘虹遥.,孙旭晴.,...&路鑫超.(2018).基于倏逝波界面散射的单个纳米颗粒无标记成像.光学学报.
MLA 熊伟,et al."基于倏逝波界面散射的单个纳米颗粒无标记成像".光学学报 (2018).

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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