半导体器件及其制造方法
文献类型:专利
作者 | 叶甜春![]() ![]() |
发表日期 | 2018-09-18 |
专利号 | CN201510580584.9 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明提供了一种半导体器件及其制造方法,在共源区与其下方的衬底之间嵌入了隔离结构,其能够在进行共源区注入时抑制杂质产生不期望的扩散,避免了由于杂质过度扩散而引起的操作失效;在三维存储器件编程和读状态时候,电子从共源区向位线流动,而在擦除时,空穴从衬底注入,由于隔离结构的存在,三维存储器件实现了编程/擦除时候需要的电子和空穴在空间上的分离,提高了擦写的效率,也有利于提高集成度。 |
公开日期 | 2015-11-25 |
申请日期 | 2015-09-12 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18727] ![]() |
专题 | 微电子研究所_存储器研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 叶甜春,霍宗亮. 半导体器件及其制造方法. CN201510580584.9. 2018-09-18. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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