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半导体器件及其制造方法

文献类型:专利

作者叶甜春; 霍宗亮
发表日期2018-09-18
专利号CN201510580584.9
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明提供了一种半导体器件及其制造方法,在共源区与其下方的衬底之间嵌入了隔离结构,其能够在进行共源区注入时抑制杂质产生不期望的扩散,避免了由于杂质过度扩散而引起的操作失效;在三维存储器件编程和读状态时候,电子从共源区向位线流动,而在擦除时,空穴从衬底注入,由于隔离结构的存在,三维存储器件实现了编程/擦除时候需要的电子和空穴在空间上的分离,提高了擦写的效率,也有利于提高集成度。

公开日期2015-11-25
申请日期2015-09-12
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18727]  
专题微电子研究所_存储器研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
叶甜春,霍宗亮. 半导体器件及其制造方法. CN201510580584.9. 2018-09-18.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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