中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
三维半导体器件及其制造方法

文献类型:专利

作者叶甜春; 霍宗亮
发表日期2018-09-18
专利号CN201510680212.3
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

 一种三维半导体器件,包括多个存储单元,每个包括:沟道层,沿垂直于衬底表面方向分布;底部栅极导电层,位于第一绝缘层堆叠中,分布在沟道层的侧壁上;浮栅层,位于第一绝缘层堆叠之上,分布在沟道层侧壁上;多个第二绝缘层与多个栅极导电层,位于浮栅层之上,沿着沟道层侧壁交替层叠;栅极介质层,分布在沟道层的侧壁上;漏极,位于沟道层顶部;以及源极,位于多个存储单元相邻两个存储单元之间衬底中。内嵌入非引出的浮栅,通过邻近引出栅级上电压的耦合在浮栅上感应出电压从而辅助完成SEG与多晶硅接触区域的沟道反型从而克服该区域的电流瓶颈,提高沟道电流,有效控制该浮栅邻近FET的阈值电压一致性。

公开日期2016-02-24
申请日期2015-10-19
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18728]  
专题微电子研究所_存储器研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
叶甜春,霍宗亮. 三维半导体器件及其制造方法. CN201510680212.3. 2018-09-18.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。