Word line interference based data recovery technique for 3D NAND Flash
文献类型：期刊论文
| 作者 | Huo ZL(霍宗亮); Wang Q(王颀); Cao HM(曹华敏); Liu F(刘飞); Yang L(杨柳) |
| 刊名 | IEICE Electronics Express
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| 出版日期 | 2018-10-01 |
| 文献子类 | 期刊论文 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/19267]  |
| 专题 | 微电子研究所_存储器研发中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Huo ZL,Wang Q,Cao HM,et al. Word line interference based data recovery technique for 3D NAND Flash[J]. IEICE Electronics Express,2018. |
| APA | 霍宗亮,王颀,曹华敏,刘飞,&杨柳.(2018).Word line interference based data recovery technique for 3D NAND Flash.IEICE Electronics Express. |
| MLA | 霍宗亮,et al."Word line interference based data recovery technique for 3D NAND Flash".IEICE Electronics Express (2018). |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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