基于时序逻辑的并发系统测试用例生成
文献类型：学位论文
| 作者 | 刘大光 |
| 学位类别 | 博士 |
| 答辩日期 | 2007-06-01 |
| 授予单位 | 中国科学院软件研究所 |
| 授予地点 | 软件研究所 |
| 关键词 | 基于模型的测试 时序逻辑 约束事件 测试用例生成 测试目的 |
| 其他题名 | Test Case Generation for Concurrent Systems Using Temporal Logic |
| 中文摘要 | 测试是当前工业界应用最为广泛的软硬件确认技术，近年来正在向系统化、规范化、自动化的方向发展。基于模型的测试成为研究关注的焦点之一。 作为引导测试用例选择的标准，测试目的在测试用例生成过程中起到重要的作用。然而，目前的测试目的描述方法通常只关注系统的时序特性，而忽视了事件参数之间的数据相关性关系。并且构造测试目的的过程通常比较繁琐，所得测试用例描述也比较复杂。 本文提出了带约束事件的时序逻辑TLCE，能够自然简洁的描述系统运行中输入/输出事件之间的时序关系以及事件参数上的数据相关性约束。在基于模型的并发系统测试框架下，采用以TLCE为测试目的描述的切片算法，实现了测试用例生成工具，可以自动生成有效的测试用例集。 主要工作如下： 定义了带约束事件的时序逻辑TLCE的语法、语义，并对比讨论了其表达能力。 阐述了一个基于模型的并发系统测试框架，采用TLCE描述测试目的，重新设计了测试用例生成算法和定制规则，实现了测试用例生成工具。 进行了缓存一致性协议和会议协议的实例研究，所生成的测试用例集显著优于随机测试用例集，说明TLCE作为测试目的描述的有效性，以及该基于模型的测试框架的优势。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-03-17 |
| 页码 | 71 |
| 源URL | [http://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/5658]  |
| 专题 | 软件研究所_中科院软件所_中科院软件所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘大光. 基于时序逻辑的并发系统测试用例生成[D]. 软件研究所. 中国科学院软件研究所. 2007. |
入库方式： OAI收割
来源：软件研究所
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