手持扫描仪式显微图象分析粒度计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈学武 ; 贾复
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| 刊名 | 分析仪器
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| 出版日期 | 1993 |
| 期号 | 3页码:28-31,76 |
| 关键词 | 粒度计 显微图象分析 |
| ISSN号 | 1001-232X |
| 通讯作者 | 贾复 |
| 中文摘要 | <正> 一、前言目前国内外采用的各种颗粒系粒度测量仪器,主要是依据颗粒的物理、化学性质实现粒度测量。这些粒度计依据其工作原理可分为:显微镜法(即对颗粒平而投影的直接观测法),重力或离心力沉降法和分级法三类。其中历史最为悠久的显微镜法,具有两个重要的特点:(1)可以对颗粒系样本粒子逐个单独进行测量;(2)可对“粒径”进行直接几何量度。目前广泛应用于工业的许多粒度计并不具备这 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2009-08-03 ; 2010-08-20 |
| 源URL | [http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/35746]  |
| 专题 | 力学研究所_力学所知识产出(1956-2008) |
| 通讯作者 | 贾复 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈学武,贾复. 手持扫描仪式显微图象分析粒度计[J]. 分析仪器,1993(3):28-31,76. |
| APA | 陈学武,&贾复.(1993).手持扫描仪式显微图象分析粒度计.分析仪器(3),28-31,76. |
| MLA | 陈学武,et al."手持扫描仪式显微图象分析粒度计".分析仪器 .3(1993):28-31,76. |
入库方式： OAI收割
来源：力学研究所
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