DETERMINATION OF AL CONTENT PROFILES IN GAALAS-GAAS MULTILAYER STRUCTURAL MATERIAL BY PHOTOELECTROCHEMICAL METHOD
文献类型：期刊论文
| 作者 | CHEN, ZY ; SHAO, YF ; ZU, FY ; PENG, RW |
| 刊名 | CHINESE PHYSICS
 |
| 出版日期 | 1985 |
| 卷号 | 5期号:4页码:1046-1049 |
| ISSN号 | 0273-429X |
| 通讯作者 | CHEN, ZY, CHINESE ACAD SCI,SHANGHAI INST MET,SHANGHAI,PEOPLES R CHINA |
| 学科主题 | Physics, Multidisciplinary |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2011-12-17 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/34513]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_新能源技术_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | CHEN, ZY,SHAO, YF,ZU, FY,et al. DETERMINATION OF AL CONTENT PROFILES IN GAALAS-GAAS MULTILAYER STRUCTURAL MATERIAL BY PHOTOELECTROCHEMICAL METHOD[J]. CHINESE PHYSICS,1985,5(4):1046-1049. |
| APA | CHEN, ZY,SHAO, YF,ZU, FY,&PENG, RW.(1985).DETERMINATION OF AL CONTENT PROFILES IN GAALAS-GAAS MULTILAYER STRUCTURAL MATERIAL BY PHOTOELECTROCHEMICAL METHOD.CHINESE PHYSICS,5(4),1046-1049. |
| MLA | CHEN, ZY,et al."DETERMINATION OF AL CONTENT PROFILES IN GAALAS-GAAS MULTILAYER STRUCTURAL MATERIAL BY PHOTOELECTROCHEMICAL METHOD".CHINESE PHYSICS 5.4(1985):1046-1049. |
入库方式： OAI收割
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