ELECTROCHEMICAL C-V METHOD FOR DETERMINATION OF SEMICONDUCTOR IMPURITY PROFILE
文献类型：期刊论文
| 作者 | SHAO, YF ; CHEN, ZY ; PENG, RW |
| 刊名 | CHINESE PHYSICS
 |
| 出版日期 | 1983 |
| 卷号 | 3期号:4页码:1049-1056 |
| ISSN号 | 0273-429X |
| 通讯作者 | SHAO, YF, CHINESE ACAD SCI,SHANGHAI INST MET,SHANGHAI,PEOPLES R CHINA |
| 学科主题 | Physics, Multidisciplinary |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2011-12-17 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/34519]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_新能源技术_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | SHAO, YF,CHEN, ZY,PENG, RW. ELECTROCHEMICAL C-V METHOD FOR DETERMINATION OF SEMICONDUCTOR IMPURITY PROFILE[J]. CHINESE PHYSICS,1983,3(4):1049-1056. |
| APA | SHAO, YF,CHEN, ZY,&PENG, RW.(1983).ELECTROCHEMICAL C-V METHOD FOR DETERMINATION OF SEMICONDUCTOR IMPURITY PROFILE.CHINESE PHYSICS,3(4),1049-1056. |
| MLA | SHAO, YF,et al."ELECTROCHEMICAL C-V METHOD FOR DETERMINATION OF SEMICONDUCTOR IMPURITY PROFILE".CHINESE PHYSICS 3.4(1983):1049-1056. |
入库方式： OAI收割
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