中红外波段半导体激光器性能测量表征系统
文献类型：专利
| 作者 | 张永刚 ; 南矿军 ; 李爱珍 |
| 发表日期 | 2002-07-17 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN1358986 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种中红外波段半导体激光器性能测量表征系统，属于半导体测试技术领域。其特征是该硬件部分由5个部分组成，分别是傅里叶变换光谱仪并引入双调制技术的激射谱测量系统；基于宽范围脉冲信号发生器的驱动系统；基于数字示波器电流探头及中红外探测器的测量监控系统；基于通用平行接口卡的计算机控制系统；热沉致冷器和温度控制系统；软件部分的编程软件为CEC公司的TESTPOINT，并采用面向对象的编程方式。除具有测量器件的I－P，I－V特性和激射光谱特性的功能外，还可以宽范围地改变驱动脉冲参数对器件的输出特性以及热特性 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2002-07-17 |
| 申请日期 | 2001-11-23 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | 01132286.1 |
| 专利代理 | 潘振∴ |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/47869]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张永刚,南矿军,李爱珍. 中红外波段半导体激光器性能测量表征系统. CN1358986. 2002-07-17. |
入库方式： OAI收割
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