用于微波功率放大器芯片的在片测试方法及其测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 张健 ; 孙晓玮 ; 李凌云 ; 顾建忠 ; 钱蓉 |
| 发表日期 | 2008-07-09 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN101216528 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种用于微波功率放大器芯片在片测试的方法及其测试系 统，属于微波通信中的芯片测试技术领域。特征在于通过脉冲方式的偏置电 压大大降低了热量对微波功率放大器性能上的影响，真正的实现了芯片的探 针台在片测试，免除了封装以及外部散热系统的安装。脉冲调制和脉冲产生 装置利用了晶体管的开关特性来调制脉冲信号作为微波功率放大器的偏置。 用直流脉冲信号连接在晶体管的栅极作为其栅极电压以控制晶体管沟道的开 启和关闭，当脉冲信号的正压加载时，晶体管的沟道建立，连接在晶体管漏 极的电流源就会通过沟道，施加电流在源极的 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2008-07-09 |
| 申请日期 | 2008-01-15 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | 200810032651.3 |
| 专利代理 | 潘振甦 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/47961]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张健,孙晓玮,李凌云,等. 用于微波功率放大器芯片的在片测试方法及其测试系统. CN101216528. 2008-07-09. |
入库方式： OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。