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用掩膜和无掩膜技术一次成型原子力显微镜探针和悬臂梁

文献类型:专利

作者李昕欣 ; 韩建强 ; 鲍敏杭 ; 杨恒 ; 沈绍群 ; 王跃林
发表日期2005-03-02
专利国别中国
专利号CN1587024
专利类型发明
权利人中国科学院上海微系统与信息技术研究所
中文摘要本发明提供了一种利用掩膜-无掩膜腐蚀技术实现AFM悬臂梁和探针一次成型的制作方法。其特征在于在腐蚀过程中,探针采用有掩膜腐蚀技术腐蚀,而梁采用无掩膜腐蚀技术腐蚀,当探针针尖的直径达到预定值时,梁的厚度达到设定值。本发明所涉及的各向异性湿法腐蚀工艺一次成型AFM探针和悬臂梁的制作方法具有以下优点。(1)制作工艺简单:仅采用了常规的光刻工艺和湿法各向异性腐蚀工艺,对工艺设备要求较低、简便易行,降低了产品成本,提高了成品率;(2)采用SOI硅片的顶层硅的下表面作为光反射面,与重掺杂自停止腐蚀形成的表面相比更平整
是否PCT专利
公开日期2005-03-02
申请日期2004-09-17
语种中文
专利申请号200410066491.6
专利代理潘振甦
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/48041]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利
推荐引用方式
GB/T 7714
李昕欣,韩建强,鲍敏杭,等. 用掩膜和无掩膜技术一次成型原子力显微镜探针和悬臂梁. CN1587024. 2005-03-02.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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