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数据差错检测和纠正用的交叉正反编码结构和解码的方法

文献类型:专利

作者陈光重 ; 李东 ; 王跃林
发表日期2006-01-04
专利国别中国
专利号CN1716211
专利类型发明
权利人中国科学院上海微系统与信息技术研究所
中文摘要本发明提供一种EDAC的交叉正反编码结构及解码的方法,其特征在于 它基于概率判决的数据冗余存储编码,其特征在于:当有效信息字段长度M 为≥4的偶数时,利用正反码的编码原理得到监督字段,再将信息字段和监 督字段进行数据冗余备份,该编码结构中的四个字段交叉构成网状的相互监 督的关系。编码结构中的信息字段和监督字段的顺序可依据实际需求进行调 整;所得交叉正反码的最小码距为8。其解码方法有按字段解码和按比特操 作,本发明提供的交叉正反码差错率极低,可纠错多位错码;高可靠性。
是否PCT专利
公开日期2006-01-04
申请日期2004-07-02
语种中文
专利申请号200410025733.7
专利代理潘振甦
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/48189]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利
推荐引用方式
GB/T 7714
陈光重,李东,王跃林. 数据差错检测和纠正用的交叉正反编码结构和解码的方法. CN1716211. 2006-01-04.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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