制备带有绝缘埋层的半导体衬底的方法以及半导体衬底
文献类型:专利
作者 | 魏星 ; 仰庶 ; 曹共柏 ; 张峰 ; 王曦 |
发表日期 | 2011-12-28 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN102299093A |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 上海新傲科技股份有限公司 ; 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
中文摘要 | 一种制备带有绝缘埋层的半导体衬底的方法,包括如下步骤:提供第一衬底与第二衬底;在第一衬底表面外延形成器件层;在第二衬底和/或器件层的表面形成绝缘层;以绝缘层和器件层为中间层,将第一衬底和第二衬底键合在一起;对键合后的衬底实施第一退火步骤;去除第一衬底,形成由器件层、绝缘层和第二衬底构成的带有绝缘埋层的半导体衬底;对此带有绝缘埋层的半导体衬底实施第二退火步骤,所述第二退火步骤的退火温度大于第一退火步骤的退火温度。本发明的优点在于,得到的SOI材料顶层硅完全由外延材料组成,与常规工艺生产的SOI材料顶层半导体 |
是否PCT专利 | 是 |
公开日期 | 2011-12-28 |
申请日期 | 2011-06-30 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | 201110183212.4 |
专利代理 | 孙佳胤 ; 翟羽 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/48643] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 魏星,仰庶,曹共柏,等. 制备带有绝缘埋层的半导体衬底的方法以及半导体衬底. CN102299093A. 2011-12-28. |
入库方式: OAI收割
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