纳米复合探针及其用于基因芯片膜转印的检测方法
文献类型：专利
| 作者 | 景奉香 ; 李海燕 ; 贾春平 ; 金庆辉 ; 赵建龙 |
| 发表日期 | 2010-08-25 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN101812529A |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种纳米复合探针及其在基因芯片膜转印的检测方法，其特征在于所述的纳米复合探针为三条探针共同标记的纳米颗粒，其中所述的三种探针分别为检测探针DP2和两种长短不同的信号探针SP1和SP2，三种探针的长度DP2≥SP1＞SP2，且SP1碱基长度比SP2长10mer以上；DP2、SP1和SP2混合的比例为DP2/(SP1+SP2)＝1∶5-1∶30，其中SP1与SP2的比例在1∶5-1∶30之间。所述的三条探针共同标记纳米颗粒所形成的空间立体结构降低杂交及生物素——键亲和素反应的空间位阻，提高检测灵敏度 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2010-08-25 |
| 申请日期 | 2010-04-23 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | 201010156014.4 |
| 专利代理 | 潘振甦 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49396]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 景奉香,李海燕,贾春平,等. 纳米复合探针及其用于基因芯片膜转印的检测方法. CN101812529A. 2010-08-25. |
入库方式： OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。