用于漏氢检测的钯合金电化学纳米氢传感器敏感层及方法
文献类型:专利
作者 | 翁百成 ; 李志林 ; 杨辉 ; 吴铸 |
发表日期 | 2010-08-25 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN101813657A |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
中文摘要 | 本发明涉及一种传感器敏感层及制备方法,是一种低成本、快速响应的化学氢传感器敏感层。其特征是:通过化学还原法制得的钯合金纳米级钯银,钯镍合金粒子等通过硅烷偶联剂的配合作用,化学吸附在玻璃基体表面。其有益效果是:将合金纳米颗粒制备技术与传感技术有机结合,响应时间短;灵敏度高。完全满足氢储运过程中对漏氢的检测要求。应用本发明的技术对保障氢能源相关行业的安全意义重大而深远。 |
是否PCT专利 | 是 |
公开日期 | 2010-08-25 |
申请日期 | 2009-12-15 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | 200910201099.0 |
专利代理 | 潘振甦 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49398] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 翁百成,李志林,杨辉,等. 用于漏氢检测的钯合金电化学纳米氢传感器敏感层及方法. CN101813657A. 2010-08-25. |
入库方式: OAI收割
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