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BSIMSOI4直流模型参数的确定方法

文献类型:专利

作者陈静 ; 伍青青 ; 罗杰馨 ; 柴展 ; 王曦
发表日期2011-02-16
专利国别中国
专利号CN101976283A
专利类型发明
权利人中国科学院上海微系统与信息技术研究所
中文摘要本发明公开了一种BSIMSOI4直流模型参数的确定方法,该方法通过提供若干不同尺寸的体引出结构MOSFET器件和浮体结构MOSFET器件;测量所有体引出结构MOSFET器件的Id-Vg-Vp、Id/Ip-Vd-Vg、Ig-Vg-Vd、Ig-Vp、Ip-Vg-Vd、Is/Id-Vp及Id/Ip-Vp-Vd特性,以及所有浮体结构MOSFET器件的Id-Vg-Vp、Id-Vd-Vg及Ig-Vg-Vd特性;并获取各个体引出结构MOSFET器件和浮体结构MOSFET器件的无自热效应的电学特性曲线;然后依次按照特定步
是否PCT专利
公开日期2011
申请日期2010-10-21
语种中文
专利申请号201010515128.3
专利代理李仪萍
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49566]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利
推荐引用方式
GB/T 7714
陈静,伍青青,罗杰馨,等. BSIMSOI4直流模型参数的确定方法. CN101976283A. 2011-02-16.

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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