BSIMSOI4直流模型参数的确定方法
文献类型:专利
作者 | 陈静 ; 伍青青 ; 罗杰馨 ; 柴展 ; 王曦 |
发表日期 | 2011-02-16 |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN101976283A |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
中文摘要 | 本发明公开了一种BSIMSOI4直流模型参数的确定方法,该方法通过提供若干不同尺寸的体引出结构MOSFET器件和浮体结构MOSFET器件;测量所有体引出结构MOSFET器件的Id-Vg-Vp、Id/Ip-Vd-Vg、Ig-Vg-Vd、Ig-Vp、Ip-Vg-Vd、Is/Id-Vp及Id/Ip-Vp-Vd特性,以及所有浮体结构MOSFET器件的Id-Vg-Vp、Id-Vd-Vg及Ig-Vg-Vd特性;并获取各个体引出结构MOSFET器件和浮体结构MOSFET器件的无自热效应的电学特性曲线;然后依次按照特定步 |
是否PCT专利 | 是 |
公开日期 | 2011 |
申请日期 | 2010-10-21 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | 201010515128.3 |
专利代理 | 李仪萍 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49566] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈静,伍青青,罗杰馨,等. BSIMSOI4直流模型参数的确定方法. CN101976283A. 2011-02-16. |
入库方式: OAI收割
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